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氣流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度，借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，適用的對(duì)象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

深圳高低溫冷熱沖擊箱分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測(cè)試區(qū)三部份，采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測(cè)試，待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。

高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)報(bào)價(jià)是模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)試。